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产品介绍
Taylor Hobson PGI OPTICS CORE
产品概要
配备高精度测量仪，并由Metrology4.0智能软件驱动。低测力设计，搭配 0.8 纳米分辨率与 14 毫米量程，为光学应用提供更广泛的适用性，且兼具高精度性能。我们的专利技术——相位光栅干涉仪（PGI），可借助标准 60 毫米测针，实现 14 毫米矢高的测量，且测量分辨率高达 0.8 纳米。此外，泰勒霍普森原厂测针兼具超高刚性与低测力特性，相较同类产品，测量精度与重复性优势显著。
Metrology4.0用户界面
表面粗糙度测量
配备Metrology4.0系统，集零件描述、测量、分析与报告功能于一体的全流程平台，操作直观便捷，配备虚拟显示与实时控制功能，桌面出版功能强大且易用，可自定义结果布局，彰显品牌专业形象。
任何计量系统的核心要素在于其输出结果的完整性和可重复性。实现精准测量的基础，是系统的“噪声基底”性能。泰勒霍普森引以为傲的正是其全球领先的超低噪声基底。我们的产品设计，依托数十年的测量经验、超精密制造技术及有限元分析（FEA）优化方案。这些特质共同保障了测量轴的低噪声，近乎无缺陷的机械运行。
产品规格
应用领域
对光学元件、精密模具、超精密零部件的表面形貌、面形精度与微观粗糙度进行纳米级精准量化，为高端光学制造、红外器件加工、医疗光学研发等领域提供无可替代的计量支撑。
