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产品介绍
CLY-200B是公司自主研发的高精度接触式二维轮廓度测量设备。
——产品特点
本产品可用于检测平面、球面、非球面、自由曲面等各种型面的光学零部件，是各类光学元器件检测的必备设备。检测口径可达200mm，矢高10mm，测量精度达1μm。
机床可选配我公司自主研发的测量软件，借助全自动测量程序，实现全自动的分析与输出显示。
——主要配置
1、花岗石底座，滑动横梁，滑动立柱，平移台。
2、气浮转轴测头（专有技术）。
3、测量臂可快速更换，测量力可微调。
——技术参数
调整台
1、平移台直径 200 mm
2、平移台行程 100 mm
Y轴（滑动立柱）
1、行程 360 mm
2、运动直线度 5 µm
X轴（滑动横梁）
1、行程 200 mm
2、直线度 2 µm/200 mm
气浮测头（测量臂长55mm）
1、测量精度 1 µm
2、测量矢高（最大）10mm
——使用环境要求
1、设备使用温度:20±2℃。一天内温度梯度小于3℃。
2、湿度：＜65%。
3、空气压力：≥0.6MPa。
4、空气过滤精度：0.01um。除油、除水。
5、空气流量: ≥0.1m³/min。
——产品特点
本产品可用于检测平面、球面、非球面、自由曲面等各种型面的光学零部件，是各类光学元器件检测的必备设备。检测口径可达200mm，矢高10mm，测量精度达1μm。
机床可选配我公司自主研发的测量软件，借助全自动测量程序，实现全自动的分析与输出显示。
——主要配置
1、花岗石底座，滑动横梁，滑动立柱，平移台。
2、气浮转轴测头（专有技术）。
3、测量臂可快速更换，测量力可微调。
——技术参数
调整台
1、平移台直径 200 mm
2、平移台行程 100 mm
Y轴（滑动立柱）
1、行程 360 mm
2、运动直线度 5 µm
X轴（滑动横梁）
1、行程 200 mm
2、直线度 2 µm/200 mm
气浮测头（测量臂长55mm）
1、测量精度 1 µm
2、测量矢高（最大）10mm
——使用环境要求
1、设备使用温度:20±2℃。一天内温度梯度小于3℃。
2、湿度：＜65%。
3、空气压力：≥0.6MPa。
4、空气过滤精度：0.01um。除油、除水。
5、空气流量: ≥0.1m³/min。
应用领域
二维轮廓度测量仪是光学元器件检测必备的设备。可测量光学元件的轮廓度与光学方程的误差，可逆推光学方程，对未知表面具有逆推系数的分析能力。适合全线光学元器件的测量（包括陡峭、平坦或小矢高等光学元器件）。
